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北京天远三维科技有限公司
联系人:李四祥 先生 (销售经理) |
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电 话:027-51332826 |
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手 机:15527081389 |
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湖北武汉三维扫描仪3D扫描仪抄数机手持激光三维扫描仪 |
一.产品技术质量
1.总体技术要求
*扫描方式:激光手持照相式
*扫描技术:激光线网格扫描技术
帧扫描区域:250mm×230mm
景深:250mm
工作距离:300mm
*扫描速率:240000次/秒
扫描分辨率:0.050 (毫米)
*测量精度:*高0.03 mm
*体积精度:0.020 + 0.100(毫米/米)
体积精度(结合DigiMetric):0.020 + 0.025(毫米/米)
测量范围(物件尺寸):0.1 ~6米,可扩展
传输方式:USB3.0
工作温度:-10 - 40℃
工作湿度:10 - 90 %
2.三维光学扫描系统配置与功能要求
(1) 数据采集传感器:高速、高精密工业级相机2台
* (2) 内置微惯性传感器,实时输出设备位姿;
* (3) 测量光源:6 束交叉激光线,激光级别ClassII(人眼安全),波长大于600纳米
(4) 计算机系统:支持windows 7,32位和64位操作系统,支持内存16G以上
(5) 拼接方式:系统整合“专业模式”全自动标志点拼接模块
(6) 全局误差控制方式:系统整合GREC Pro全局误差控制模块
* (7) 使用方便:整个过程全部手持完成,无需三脚架等支撑装置
(8) 所测量的物体表面可不做任何形式(如贴标识和喷白)的预先处理
(9) 普通环境下可以测量鎏金等高光亮物体以及黑色物体
(10)防抖设计:采用先进的防抖动算法,防止扫描过程中人为的抖动对误差的影响
3.三维光学扫描系统软件功能要求
* 全中文软件界面
* 自适应形面扫描模块
(1) 自动调节系统参数,自适应各种材质/颜色表面的不同扫描对象,无需手动调节;
(2) 可变点距扫描,在同一次扫描中,可对点距进行灵活设置和改变,同时满足高速扫描以及精细扫描的需求
* 自动拼接模块
(1) 智能标志点识别技术:系统自动跟踪识别标志点;
(2) 惯性—光学混合式传感器定位技术,实时将数据自动配准到同一坐标系;
(3) GREC Pro全局误差控制模块,可对拼接后的误差进行全局控制;
* 全局框架扫描模块
(1) 全局框架扫描技术,对框架点累积误差进行全局控制;
(2) 兼容DigiMetric系统,搭载全局摄影测量技术可将扫描范围扩展至几十米;
点云处理模块
(1)扫描数据后,可进行点云噪声处理及修剪
(2)基于曲率的点云精简功能
(3)自动生成三角面
数据输入输出
(1)导出结果为ASC,STL,OBJ,OKO等格式数据输出接口广泛,测量结果可与CATIA、Geomagic Studio、Imagewar |
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